#839. 【基础】芯片测试

【基础】芯片测试

说明

n2n20n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)

给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片

输入格式

输入数据第一行为一个整数nn,表示芯片个数

第二行到第nn+1行为nnn*n的一张表,每行nn个数据。表中的每个数据为0或1,在这nn行中的第ii行第jj列(1i,jn1≤i, j≤n)的数据表示用第ii块芯片测试第jj块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=ji=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3

来源

蓝桥杯基础训练